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マスク検査とは 1枚の原版の傷が全チップに写る EUV用はレーザーテックが装置

マスク検査は、回路の原版であるフォトマスクの欠陥を探す工程です。レーザーテックは、2027年6月期の受注を4000億〜5000億円と見込み、EUVとDUVのマスク関連装置の需要が増えているとしています。

ポイント
  • フォトマスクは、露光で回路の模様をウエハーに写すための原版です。
  • 原版に欠陥があると、1枚のウエハーの中の多くのチップに同じ欠陥が写ります。
  • 検査は、素材のブランクス、回路を描いた後のマスク、ほこりよけのペリクルの段階で別々に行います。
  • レーザーテックは、EUVの光そのものを使うマスク検査装置「ACTIS」を製品に持ちます。

露光装置は、フォトマスクに描いた回路の模様を縮めて、ウエハーの上に場所を変えて繰り返し写します。マスクに1か所でも欠けや異物があると、同じ所に同じ不良が並びます。1枚のマスクで多くのウエハーを露光するため、マスクの欠陥は損失が大きくなります。マスク検査は、これを使う前に見つける工程です。

3つの段階で調べる

マスク検査の段階とレーザーテックの製品の例
段階調べるもの製品の例(EUV用)
ブランクス回路を描く前の素材の板の欠陥ABICS E120、ABICS E320
パターン付きマスク描いた回路の欠け、余分、異物ACTIS A150、ACTIS A300シリーズ、ACTIS A200HiTシリーズ
ペリクルマスクを覆う保護膜についた異物PELMISシリーズ

ほかに、マスクの裏面を調べて洗う装置や、マスクの端を調べる装置もあります。DUV用のマスクには、光の位相のずれや透過率を測る装置を使います。

EUVのマスクはなぜ難しいか

従来のDUVのマスクは、光を通すガラスの板に遮光の膜で模様を描きます。EUVの波長13.5ナノメートルの光はガラスを通らないため、EUVのマスクは光を反射する多層の鏡の上に、光を吸う膜で模様を描きます。

多層の鏡の中に埋もれた小さな欠陥は、表面からは見えにくく、EUVの光を当てたときにだけ問題になることがあります。そこで、露光と同じEUVの光を当てて調べる方法を「アクティニック」検査と呼びます。レーザーテックの「ACTIS」は、この方式のパターン付きEUVマスクの検査装置です。

装置をつくる会社と数字

レーザーテックの2026年7〜9月期の売上高は403億円で、前年同期比25.5%減りました。半導体関連装置の売上高は238億円で42.9%減った一方、保守などのサービスは160億円で31.2%増えました。会社は売上を「概ね当初の想定通り」としています。

レーザーテックの2026年7〜9月期(億円)
項目2025年7〜9月2026年7〜9月増減率
売上高541.7403.7△25.5%
うち半導体関連装置417.5238.5△42.9%
うちサービス122.0160.1+31.2%
営業利益267.3157.7△41.0%

マスク検査では米KLAも装置をつくります。マスクに回路を描く電子ビームの描画装置では、日本電子などが知られます。

関連する用語

  • マスクブランクス:回路を描く前のマスクの素材です。
  • ペリクル:マスクの上に張る薄い膜で、ほこりが模様の上に直接乗るのを防ぎます。
  • 描画装置:電子の線でマスクに回路を描く装置です。

レーザーテックの2027年6月期の通期予想は、売上高2900億円、営業利益1250億円です。受注の見通しは4000億〜5000億円に引き上げました。

この記事は公開資料をもとに作成しています。売買をすすめるものではありません。誤りを見つけたら訂正します(編集方針)。

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